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        渦流陣列探頭

        更新時間:2021-09-03

        訪問次數:297

        生產地址:

        廠商性質:代理商

        產品簡介:
        渦流陣列探頭用于腐蝕探測、摩擦攪拌焊縫檢測、表層和近表層缺陷檢測。這種探頭有助于加快檢測的進程。
        品牌其他品牌供貨周期現貨
        應用領域化工

        渦流陣列(ECA)技術提供以電子方式驅動和讀取多個并排放置在同一探頭中的渦流傳感器的能力。通過使用多路傳輸功能,可避免單個線圈之間的互感,使數據采集成為可能。

        渦流陣列儀器


        OmniScan MX ECA/ECT

        這款儀器可以進行渦流陣列檢測。其檢測配置支持32個傳感線圈(使用外置多路轉換器可支持64個線圈),其工作模式可為橋式或發送接收式。其工作頻率范圍為20 Hz到6 MHz,并提供可以在同一采集操作過程中使用多個頻率的選項。

        OmniScan MX
        經過現場驗證的、可靠的儀器

        OmniScan MX是一款已經現場驗證、性能可靠的儀器,其機身結構堅固耐用,可以在嚴酷、惡劣的檢測環境中正常工作;現在世界上正在使用的OmniScan MX儀器有成千上萬臺。這款儀器緊湊、輕巧,使用兩節鋰離子電池供電,在電池滿電量時,可以進行長達6小時的手動或半自動檢測。

        OmniScan MX儀器的8.4英寸顯示屏可以實時顯示高清彩色圖像,在大多數光線條件下,操作人員都可以查看缺陷及其細微情況。用戶可使用飛梭旋鈕和功能鍵在儀器簡潔、直觀的界面上輕松瀏覽,也可以將USB鼠標連接到儀器,方便對檢測數據進行分析。

        OmniScan MX

        一個平臺、兩款模塊、三種技術:靈活適用性更強

        為了滿足更廣泛應用的要求,兩款模塊都提供渦流檢測(ECT)、渦流陣列(ECA)以及粘接檢測(BT)C掃描技術。兩款模塊都與MXE(ECT/ECA)和MXB(BT C掃描)軟件兼容;要做到這點,只需在各種技術之間進行簡單轉換,操作人員接受少許培訓即可。



        EC表面探頭ECA探頭粘接檢測C掃描
        OmniScan MX模塊

        常規ECT

        渦流陣列

        粘接檢測C掃描

        ECT4模塊

        不被支持

        ECA4-32模塊


        支持大多數Nortec探頭

        支持32個機載通道;使用外置多路轉換器時,可支持64個通道

        要求使用特殊適配器和掃查器

         

        OmniScan MX Aero
        ECA與ECT別無二致 
        覆蓋范圍廣,掃查速度快,檢出概率高

        渦流陣列 (ECA) 技術融合了多種傳統的橋式或反射式(驅動器-拾波器)探頭線圈,以便在一次掃查檢測中覆蓋更大的范圍。此外,每款ECA探頭型號都經過精心設計,可在沿探頭長度方向上的目標缺陷范圍內保持很高的檢出率。用戶在使用OmniScan MX ECA探傷儀時,可以非??斓乃俣仁謩右苿覧CA探頭進行檢測,并借助彩色圖像和歸檔功能,完成性能強大、效率很高的檢測。 

         

        原理

        單線圈:光柵掃查

        陣列探頭:單行掃查

        透過薄涂層進行檢測

        渦流檢測(ECT)技術基于以下磁耦合工作原理:接近被測工件(鐵磁性或非鐵磁性的導電材料)的探頭傳感器(線圈)在被測工件中產生渦流,并在儀器的阻抗圖中顯示信號。使用渦流技術時,只要探頭到金屬的距離保持在合理的近距離范圍內,一般為0.5毫米到2.0毫米,就可以透過薄涂層(如:漆層)探測到材料中的缺陷。

        渦流陣列(ECA)和渦流檢測(ECT)技術基于相同的基本原理(和物理學理論),因此也可以透過漆層進行檢測,而且ECA技術還具有以下優勢:覆蓋范圍大、掃查速度快、檢出概率高,及可進行彩色成像。

         

        透過薄涂層進行檢測

        渦流檢測使用的探頭為銅線繞制而成的線圈。線圈形狀可以變化,以更好地適用于特定的應用。

        1. 交流電流在所選的頻率下通過線圈,在線圈周圍產生磁場。

        2. 當線圈靠近導電材料時,材料中產生感應渦流。

        3. 如果導電材料中的缺陷干擾了渦流的流通,則探頭的磁耦合效果會發生改變。通過測量線圈的阻抗變化,可以解讀缺陷信號。


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